BTS2048-VL-TEC

TE gekühltes CCD Array Spektralradiometer mit großem Dynamikbereich für CW- und Kurzzeitmessungen von Bestrahlungsstärke / Beleuchtungsstärke, Spektrum, Lichtfarbe und Farbwiedergabe. Zubehör für weitere Messgrößen.   

Kompaktes Messgerät. Bi-Tec-Detektor mit thermoelektrisch gekühltem back-thinned CCD-Diodenarray (2048 Pixel, 2 nm optische Auflösung, elektronischer Shutter) und Si-Fotodiode mit V(Lambda) Filter. Optische Bandbreitenkorrektur (CIE214). Filterrad mit Blende und zwei Dämpfungsfiltern. Eingangsoptik mit Streuscheibe. Cosinus-Blickfeldfunktion. Automatische PWM-Synchronisierung

Spektral: 0,1 lx bis 3E8 lx 280 nm bis 1050 nm (Minimum bei weißer LED und niedriger Aussteuerung). Integral: Photometrisch 360 nm bis 830 nm 0,1 lx Rauschsignal bis 3E8 lx,

Diodenarray-Spektralradiometer für Entwicklungsaufgaben. Baugruppe zur Integration in Prüfsysteme für Frontend- und Backend-LED-Sortierung.  

Werk-Kalibrierung. Rückführbar auf PTB-Kalibrierstandards.

Spektrale Bestrahlungsstärke (W/(m² nm)), Bestrahlungsstärke (W/m²), Beleuchtungsstärke (lx), spektrale Strahlstärke (W/(sr nm)), Strahlstärke (W/sr), Lichtstärke (cd), dominante Wellenlänge, Peak-Wellenlänge, Zentrums-Wellenlänge, Schwerpunkts-Wellenlänge, x, y, u´, v´, X,Y,Z, delta uv, Farbtemperatur, Farbwiedergabeindex (CRI) Ra, R1-R15, TM-30-15, CQS, CIE-170, etc.. Option Ulbrichtsche Kugel: zusätzlich Strahlungsleistung (W/nm) und Lichtstrom (lm) Option Goniometer: spektrale Strahlstärke Verteilung (W/sr) und Lichtstärke Verteilung (cd)

Güteklasse B (DIN 5032 Teil 7)
Güteklasse A für f1`, u, f3 und f4 (DIN 5032 Teil 7)

Eingangsdiffusor mit Cosinus angepasstem Blickfeld (f2 ≤ 3 %)

4 Positionen (Offen, Zu, OD1, OD2). Nutzung zur ferngesteuerten Dunkelstrommessung und Vergrößerung des Dynamikbereiches.

Parallele Messung mit Diode und Array ist möglicht, dadurch kann eine Linearitätskorrektur des Arrays durch die Diode sowie eine onlinekorrektur der spektralen Fehlanpassung der Diode a*(s_z(λ)) bzw. F*(s_z(λ)) erfolgen.

Spektrale Bestrahlungsstärke

Spektrale Bestrahlungsstärke Empfindlichkeit (350 - 1050) nm

2 μs - 60 s        *1

(280 -1050) nm

2 nm

~0,4 nm/Pixel

2048

Einstufig gekühlter hochsensitiver Back-thinned CCD Chip

16bit

± 0,2 nm

± 0,5 nm           *2

± 0,0015 (Standard Lichtart A)
± 0,0020 (typische LED)

± 0,0001

Normlichtart A 30 K; LED bis zu +/- 1,5 % in Abhängigkeit von dem LED Spektrum

mathematische Online Bandpasskorrektur wird unterstützt

vollständig lineararisierter Chip >99,6 %

2E-4           *3

5 cts         *4

5000        *5

>10 Größenordnungen

(1E-6 - 1E5) W/(m²nm)           *6*7

Ra und R1 bis R15

10 lx        2,5 s           *10
100 lx      250 ms      *10
1000 lx    25 ms        *10

Spektrale Empfindlichkeit mit feiner CIE photometrischer Anpassung. On-line Korrektur der photometrischen Anpassung durch die spektrale Messdaten (Korrektur der spektralen Fehlanpassung).

Neun (9) Messbereiche mit transzendenter Offset-Korrektur

Höchster messbarer Beleuchtungsstärkewert 3E8 lx *7
Rauschäquivalenter Beleuchtungsstärkewert 1E-1 lx

Beleuchtungsstärke ± 2,2 %

≤ 6 % (unkorrigiert)

≤ 1,5 % (f1' a*(s_z(λ)) bzw. F*(s_z(λ)) korrigiert mit den spektralen Daten. Dies erfolgt automatisch bei der BTS Technologie)

32 bit zur Gerät- 16 bit zur CCD- und 8 bit zur Fotodioden-Steuerung

USB V2.0, Ethernet (LAN UDP Protocol), RS232, RS485

Richtwerte für 2048 Float Arraywerte Ethernet 7 ms, USB 2.0 140 ms

2x (0 - 25) VDC, Optokoppler isoliert 5 V / 5 mA

2x open collector, max. 25 V, max. 500 mA

Trigger-Eingang vorhanden (verschiedene Optionen, fallende/steigende Flanke, Verzögert, etc.)

Anwendersoftware S-BTS2048
Option Software Development Kit S-SDK-BTS2048 für eigene Softwareentwicklung basierend auf .dll‘s in C, C++,C# oder in LabView.

Mit Netzteil: DC Input 5 V (±10 %) bei 700 mA
Mit USB Bus (500 mA) *8

103 mm x 107 mm x 52 mm (Länge x Breite x Höhe)

500g

Stativgewinde und M6

Frontadapter: UMPA-1.0-HL geeignet für Ulbrichtkugel Portframe UMPF-1.0-HL

Lagerung: (-10 bis 50) °C

Anwendung: (10 bis 30) °C           *9

*1 Es wird empfohlen, bei jeder Integrationszeitänderung eine neue Dunkelmessung durch zuführen.
*2 Typischer Wert. Die Unsicherheit der dominanten Wellenlänge ist von der spektralen Verteilung der LED abhängig
*3 typischer Wert, gemessen 100nm links neben dem Peak einer kaltweißen breitbandigen LED
*4 *5 typischer Wert gemessen ohne Mittelung bei einer Messzeit von 4ms und Vollaussteuerung des Arrays. Mit Mittelung steigt das S/N bzw. fällt das
Basisrauschen quadratisch, z.B. 100-Fache Mittelung verbessert S/N um Faktor 10.
*6 Minimum bei S/N von 500/1. Maximum bei Vollaussteuerung.
*7 Bestrahlung nur für sehr kurze Zeit zulässig um thermischen Schaden zu vermeiden
*8 Bei der USB Versorgung ist aufgrund des geringeren Ladestroms kein Ethernet und keine Kühlung verfügbar
*9 Gerät benötigt zur Temperaturstabilisierung in etwa 25min. Wird in der Warmlaufphase oder unter nicht konstanten Temperaturen gemessen, so ist
bei jeder Messung eine neue Dunkelmessung erforderlich
*10 Messung einer weißen LED bei 20000 Counts Aussteuerung (signal-dark)

CCD Chip: ≤ ± 0,25 °C

(5E-9 - 5E2) W/nm

(3E-5 - 1E5) lm

150 mm

Messung mit 20000 cts:

1 lm      80 ms
10 lm    8 ms
100 lm  800 μs

Optimierte Messung mit 5000 cts und Rauschreduzierung:

10 lm   2 ms

Lichtstrom: ± 4 %

Spektraler Strahlungsfluss:

Spektrale Strahlungsflussempfindlichkeit (350 - 1050) nm

(1E-8 - 1E3) W/nm

(7E-5 - 2E5) lm

210 mm

Messung mit 20000 cts:

1 lm       160 ms
10 lm     16 ms
100 lm   1600 μs

Optimierte Messung mit 5000 cts und Rauschreduzierung:

10 lm     4 ms

Lichtstrom: ± 4 %

Spektraler Strahlungsfluss:

Spektrale Strahlungsflussempfindlichkeit (350 - 1050) nm

(2E-7 - 2E4) W/nm

(1E-3 - 4E6) lm

1000 mm

Messung mit 20000 cts:

10 lm        450 ms
100 lm      45 ms
1000 lm    4,5 s

Optimierte Messung mit 5000 cts und Rauschreduzierung:

10 lm        112 ms

Lichtstrom: ± 4 %

Spektraler Strahlungsfluss:

Spektrale Strahlungsflussempfindlichkeit (350 - 1050) nm

(1E-6 - 1E5) W/(sr nm)  ; bei 1m Messabstand

(1E-1 - 3E8) cd ; bei 1m Messabstand

Lichtstärke: ± 4 %

Spektrale Strahlstärke:

Spektrale Strahlstärke Empfindlichkeit (350 - 1050) nm

(5E-8 - 5E3) W/nm

(3E-4 - 1E6) cd

Lichtstärke ILED-B: ± 4 %

Spektrale Strahlstärke ILED-B:

Spektrale Strahlstärke Empfindlichkeit (350 - 1050) nm

Messgerät, Hartschalenkoffer, Betriebsanleitung, S-BTS2048 Software, Kalibrierzertifikat.

Kalibrierung des BTS2048-VL von 280 nm bis 1050 nm mit Kalibrierzertifikat.

Kalibrierung des BTS2048-VL von 280 nm bis 1050 nm mit Kalibrierzertifikat. Inklusive Ermittlung und Implementierung der Streulichtmatrix.

Rekalibrierung des BTS2048-VL mit Kalibrierzertifikat

Rekalibrierung des BTS2048-VL von 280 nm bis 1050 nm mit Kalibrierzertifikat.

Rekalibrierung des BTS2048-VL von 280 nm bis 1050 nm mit Kalibrierzertifikat. Inklusive Ermittlung und Implementierung der Streulichtmatrix.

Vorsatztubus zur Begrenzung des Blickfeldes des BTS2048-VL Spektralradiometer auf 20 mm bzw. 2,2 mm Durchmesser in 200 mm Abstand. Verwendung zur Blue Light Hazard Messung.

Vorsatztubus zur Begrenzung des Blickfeldes des BTS2048-VL Spektralradiometer auf 20 mm bzw. 2,2 mm Durchmesser in 200 mm Abstand. Tubus gefertigt aus Aluminium mit schwarzer Innenbeschichtung. Geeignet für höhere Temperaturen am Einsatzort. Verwendung zur Blue Light Hazard Messung.

Software Development Kit, Software-CD mit Anleitung.

Software Modul zur Funktionserweiterung der S-BTS2048 Software. Unterstützt die Re-Kalibrierung von Lichmessgeräten der BTS2048 Serie durch den Anwender.